2013-07-05 23:12:18
台灣顯微企業有限公司
紅外線顯微鏡.IR顯微鏡
IR 顯微鏡
- 檢測功能：利用特殊光學可穿透矽晶圓並可完整呈現,防止不良的發生
- 適合半導體業界檢測使用,如si interposer、TSV、Bumping、Flip chip、FC-CSP、FC-BGA、MEMS、WLC-SP、封裝後成品等等。
- 光學設計IR光源採用2種波長1.波長900~1100nm、2.波長900~1700nm
- 檢測速度：0.1秒
- IR CCD有2種可選擇,1.波長900~1100nm、2.波長900~1700nm
- 檢測速度：0.1秒
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